Electron
15 June 2024
Sb-Se-basiertes elektrisches Schaltgerät mit schneller Übergangsgeschwindigkeit und minimierter Leistungsverschlechterung aufgrund stabiler Mid-Gap-Zustände
Xianliang Mai1,†, Qundao Xu1,†, Zhe Yang1,†, Huan Wang1, Yongpeng Liu1, Yinghua Shen1, Hengyi Hu1, Meng Xu2, Zhongrui Wang2, Hao Tong1,3, Chengliang Wang1,*, Xiangshui Miao1,3, Ming Xu1,3,*
1 Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Fakultät für integrierte Schaltkreise, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China
2 Fakultät für Elektrotechnik und Elektronik, Universität Hongkong, Hongkong, China
3 Hubei Yangtze Memory Laboratories, Wuhan, China
† Xianliang Mai, Qundao Xu und Zhe Yang haben gleichermaßen zu dieser Arbeit beigetragen.
10.1002/elt2.46
Das chalkogenidbasierte Ovonic Threshold Switching (OTS)-Bauelement, bekannt für seine schnellen und zuverlässigen Eigenschaften, erweist sich als unverzichtbare Komponente in Speicherchips und neuromorphen Computerarchitekturen. Allerdings neigt das Funktionsmaterial zur Glasrelaxation, was zu Leistungseinbußen und Schwankungen der Schwellenschaltspannung über mehrere Schaltzyklen hinweg führt. In diesem Titelbild (DOI: 10.1002/elt2.46) schlugen die Autoren ein einfaches binäres OTS-Bauelement zur Lösung dieses Problems vor. Eine umfassende Untersuchung mittels First-Principles-Berechnungen hat die grundlegenden Mechanismen enthüllt, die der robusten Leistung des Materials zugrunde liegen.
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